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IP40防護等級試具，IP4X試驗探棒符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。
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試具D探針，IP40防護試具符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。
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試具C探針，溝槽、孔及反向錐度量規(guī)符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持工具觸及的防護檢驗。
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IP20防護試具，鉸接試指，B型探棒符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
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IP1X試驗指，A型探棒符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手背觸及的防護檢驗。
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直徑125大擋板試驗指符合GB4706-30：20.2、IEC60335-2-14：20.2條款要求，擋板為直徑125㎜圓擋板，從試驗指*到擋板距離為100㎜，其他尺寸與ZLT-I02相同。
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直徑50圓擋板標(biāo)準(zhǔn)試驗指符合GB4706-1：20.2、IEC60335-1：20.2條款要求，擋板為直徑50㎜圓擋板，其他尺寸與ZLT-I02相同。
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關(guān)節(jié)試驗指，B型探棒符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
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試具A探針，直徑50mm的球形試具符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手背觸及的防護檢驗。
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