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試驗(yàn)探針的壽命一般由什么而決定呢？
更新時(shí)間：2021-08-11 點(diǎn)擊次數(shù)：1875
人們最早采用探針技術(shù)與今天的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個(gè)很短的線極尖而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過探針基片上一個(gè)小孔而與被測器件的壓點(diǎn)相接觸。此時(shí)，其技術(shù)難度在于如何突破4GHz時(shí)實(shí)現(xiàn)可重復(fù)測量。雖然有可能通過校準(zhǔn)過程來剔除一個(gè)接觸線極尖相對較大的串聯(lián)電感的影響，但當(dāng)圓晶片的夾具被移動(dòng)時(shí)，線極尖的輻射阻抗會(huì)有較大的變化。
試驗(yàn)探針在產(chǎn)品生命周期中幾乎每一個(gè)階段都起著重要作用：從技術(shù)開發(fā)，模型參數(shù)提取，設(shè)計(jì)驗(yàn)證及調(diào)試一直到小規(guī)模生產(chǎn)測試和最終的生產(chǎn)測試。通過使用探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發(fā)時(shí)間縮短并且大大降低開發(fā)新產(chǎn)品的成本。
試驗(yàn)探針的壽命往往都是由測試環(huán)境決定的，如果測試環(huán)境比較差，各種雜質(zhì)進(jìn)入探針內(nèi)管，就會(huì)造成彈簧損壞，這樣就必須要更換探針。這種是小部分更換，還有一種是定期對測試探針進(jìn)行更換，當(dāng)使用到一定的時(shí)間后，測試探針就必須要更換。如果是高頻探針的話，這個(gè)比較特殊，高頻探針主要在于高頻針的內(nèi)芯針，所以高頻探針更換一般都是將內(nèi)芯針進(jìn)行更換，這樣可大大降低成本。
使用者的不當(dāng)使用，也可能造成試驗(yàn)探針因損壞而提前更換。例如，探針頭部下壓的深度（也就是頭接觸測試點(diǎn)時(shí)頭部下壓程度。有輕微接觸，有頭部下壓三分二和下壓到底部）、下壓時(shí)的速度以及下壓時(shí)候的力度，這些都會(huì)對探針的彈簧都有所耗損。每個(gè)顧客的設(shè)計(jì)以及使用方法不同，這些使用方法都是決定探針壽命的幾個(gè)關(guān)鍵的因素。
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