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試驗探針的壽命一般由什么而決定呢？
更新時間：2021-08-11 點擊次數：1943
人們最早采用探針技術與今天的工具是很不相同的，早期探針使用了由一個很短的線極尖而逐漸收斂的50-Ω微帶線，通過探針基片上一個小孔而與被測器件的壓點相接觸。此時，其技術難度在于如何突破4GHz時實現可重復測量。雖然有可能通過校準過程來剔除一個接觸線極尖相對較大的串聯電感的影響，但當圓晶片的夾具被移動時，線極尖的輻射阻抗會有較大的變化。
試驗探針在產品生命周期中幾乎每一個階段都起著重要作用：從技術開發，模型參數提取，設計驗證及調試一直到小規模生產測試和最終的生產測試。通過使用探針，人們便有可能在晶片層次上測量射頻組件的真正特性。這可以將研究和開發時間縮短并且大大降低開發新產品的成本。
試驗探針的壽命往往都是由測試環境決定的，如果測試環境比較差，各種雜質進入探針內管，就會造成彈簧損壞，這樣就必須要更換探針。這種是小部分更換，還有一種是定期對測試探針進行更換，當使用到一定的時間后，測試探針就必須要更換。如果是高頻探針的話，這個比較特殊，高頻探針主要在于高頻針的內芯針，所以高頻探針更換一般都是將內芯針進行更換，這樣可大大降低成本。
使用者的不當使用，也可能造成試驗探針因損壞而提前更換。例如，探針頭部下壓的深度（也就是頭接觸測試點時頭部下壓程度。有輕微接觸，有頭部下壓三分二和下壓到底部）、下壓時的速度以及下壓時候的力度，這些都會對探針的彈簧都有所耗損。每個顧客的設計以及使用方法不同，這些使用方法都是決定探針壽命的幾個關鍵的因素。
